Halbleitertest
Die steigende Integrationsdichte von Elektronikkomponenten verlangt modulare und flexible Prüfsysteme, die sich durch schnelle Prüfzeiten, hohe Kanalanzahl und unterschiedlichste I/O-Kanäle auszeichnen. Dabei ging es nicht nur um die Einhaltung der Qualitätsanforderungen von der Entwicklung bis zum Produktionstest, sondern auch um effiziente Automatisierung der Arbeitsschritte mit industriellen Mess- und Automatisierungsplattformen. Kunden und Partner stellten in diesem Track Komponenten und Lösungen für den Test von Halbleiterprodukten vor.
Mittwoch, 27.10.2010
| 11:00 – 11:30 | Semiconductor Test with NI Components Travis White, National Instruments |
| 11:30 – 12:00 | Design of a Real-Time System for in-situ Characterization of Smart Power Switches during Cycle Stress Testing Benjamin Steinwender, KAI Kompetenzzentrum für Automobil- und Industrie-Elektronik | Details |
| 12:00 – 12:30 | ABex – Nächste Generation des PXI-basierten Halbleitertests Michael Konrad, Konrad Technologies | Details |
| 12:30 – 13:00 | Konzept zur Implementierung von echtzeitfähigen Steuerungen mit LabView auf der Plattform CompactRio (Halbleiterproduktion) Peter Reisner, Infineon Technologies Austria | Details |
| 13:00 – 14:30 | Mittagsbuffet / Besuch der Ausstellung |
