Seit mehr als 30 Jahren ist es das Ziel von National Instruments, die allgemeine Mess- und Prüftechnik zu einem einfach einzusetzenden Mittel zu machen, mit dem sich Produkte durch ihren Entwicklungsprozess vom Design über das Prototyping bis hin zur Serienreife komfortabel und dabei mit höchster Präzision und Leistungsfähigkeit begleiten lassen. Dabei versucht NI, immer neue Technologien und Trends für die Mess- und Prüftechnik zu erkennen, in das breite Produktspektrum zu integrieren und dem Anwender dadurch neue Einsatzgebiete für virtuelle Instrumente zu ermöglichen.
In diesem Track finden Sie Vorträge von Anwendern, welche sich dieses Engagement von NI für ihre Anwendungen zunutze machen, neue Produkte, die die stetige Weiterentwicklung aufzeigen und Tutorien, die Ihnen den Einstieg in neue Aufgaben erleichtern und den Umgang mit den dazugehörigen Produkten zeigen sollen.
| 11:00 – 11:30 | Neue Produkte der Mess- und Prüftechnik in der Anwendung Marian Olef, National Instruments | Details |
| 11:30 – 12:00 | Tutorium: Messgerätesteuerung mit NI LabVIEW Andreas Scholz, National Instruments | Details |
| 12:00 – 12:30 | Entwicklung eines portablen Analysengeräts zur Bestimmung von Nanoteilchen in Flüssigkeiten Bartjan den Hartogh, Tom Forrer, nanotion | Details |
| 12:30 – 13:00 | Tutorium: Fallstricke präziser DC-Messungen Moritz Mayer, National Instruments | Details |
| 13:00 – 14:30 | Mittagsbuffet / Besuch der Ausstellung |
| 14:30 – 15:00 | Universelle Automatisierung im Elektroniklabor mit dem „CTVLab“
basierend auf LabVIEW Stephan Reutzel, Continental Teves | Kai Larsen, MSC Measurement Solution Consultants Ingenieurbüro | Details |
| 15:00 – 15:30 | Tutorium: NI CompactDAQ under the Hood Rüdiger Ellmauer, National Instruments |
| 15:30 – 16:00 | LabVIEW prüft Sicherheitssystem zum Schutz vor Überdrehzahl bei Großdieselmotoren für Containerschiffe Roland Spiegel, Noris Marine Systems | Details |
| 16:00 – 16:30 | Kaffeepause / Besuch der Ausstellung |
| 16:30 – 17:00 | Tutorium: Datenerfassung verstehen mit NI LabVIEW Diana Stöckert, National Instruments | Details |
| 17:00 – 17:30 | Tutorium: Temperatur-, Dehnungs- und Impedanzwerte richtig erfassen Jochen Klier, National Instruments | Details |
