Prüfstandsautomatisierung

Nachdem in den letzten Jahren zahlreiche neue Technologien den Bereich der automatisierten Prüfsysteme revolutioniert haben, gilt es nun diese in bestehende Prüfstandskonzepte zu integrieren und neue leistungsfähigere Standardsysteme zu realisieren. Softwarebasierte Systeme ermöglichen in diesem Rahmen eine besonders komfortable Integration von Technologien wie Multicore, FPGA, PCI Express und PXI Express und profitieren in Kombination mit modularen Messgeräten von ihnen. Durch die Offenheit eines solchen Ansatzes und die vielfältigen Anbindungsmöglichkeiten bieten sie auch für die Realisierung hybrider Systeme die ideale Plattform.

Dieser Track zeigte anhand einiger Beispiele aus allen Bereichen der Industrie, wie Sie modulare, softwaredefinierte Prüfsysteme mit höherem Durchsatz und verbesserter Flexibilität zu geringeren Gesamtkosten erstellen, und demonstriert die besten Verfahrensweisen für die Entwicklung effizienter Prüfsysteme.


Mittwoch, 27.10.2010

11:00 – 11:30 Das universelle Messsystem – Wunsch oder Wirklichkeit?
Jörg Vetter, ITK Engineering | Details
11:30 – 12:00 Entwicklung und Konstruktion eines Haptikversuchsstandes zur Analyse haptischer Wahrnehmungen von Materialoberflächen durch physikalische Messwerte und subjektive Bewertungen
Manfred Renner, Fraunhofer-Institut für Umwelt-, Sicherheits- und Energietechnik UMSICHT | Details
12:00 – 12:30 Entwicklung dezentraler, EtherCAT-basierter Systeme – Neuerungen & NI Roadmap
Daniel Riedelbauch, National Instruments | Details
12:30 – 13:00 Motion Simulator Controlled via EtherCAT
Robin Hauser, ACUTRONIC Switzerland | Details

13:00 – 14:30 Mittagsbuffet / Besuch der Ausstellung

14:30 – 15:00 Haushaltsgeräteentwicklung mit Qualität unterstützt von TestMaster und LabVIEW
Dr. Gerd Schmitz, S.E.A Datentechnik | Details
15:00 – 15:30 Testautomatisierung aus einem Guss mit LabVIEW, Ranorex und dem Team Foundation Server
Dirk Beinert, Andreas Turk, infoteam Software | Details
15:30 – 16:00 Modulare Softwarearchitektur für die datenbankgestützte Laborautomatisierung
Ulf Fleming, GROHE
Dr. Gerd Schmitz, S.E.A. Datentechnik | Details

16:00 – 16:30 Kaffeepause/Besuch der Ausstellung

16:30 – 17:00 Konsequenzen und Umsetzung der neuen Maschinenrichtlinie mit LabVIEW am Beispiel eines Hochdruckprüfstandes
Asif Khan, MS2 Engineering und Anlagenbau,
Christian Schleicher, Festo | Details
17:00 – 17:30 SARA-Prüfstandsautomatisierung in der Verfahrenstechnik
Christian Haeske, measX | Details

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Begleitband zum 15. VIP-Kongress

Virtuelle Instrumente in der Praxis 2010 – hier finden Sie alle eingereichten Beiträge zum VIP-Kongress 2010.

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Der Tagungsband zum VIP-Kongress 2010 ist auch im Handel erhältlich.

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Auf dem VIP-Kongress wurden Ihnen viele neue Produkte präsentiert. Hier können Sie sich einen Überblick über die neuen Produkte von National Instruments verschaffen.

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